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電子智能門鎖老化測(cè)試架適用于電子智能鎖PCBA主板、成品指紋鎖老化測(cè)試作帶載老化測(cè)試。老化架負(fù)載和老化架控制器均采用MCU設(shè)計(jì),整機(jī)操作簡(jiǎn)單快捷,性能穩(wěn)定可靠,是老化電子智能門鎖的選擇。