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小型斷路器脫扣特性綜合測(cè)試臺(tái)是根據(jù)客戶提供的技術(shù)要求來設(shè)計(jì)制造的,符合 GB10963.1-2005第9.10條GB14048.1-2006第7.2.1條、JB/T8979-2006第8.13條斷路器標(biāo)準(zhǔn)。能對(duì)斷路器進(jìn)行脫扣特性試驗(yàn),即施加1.13倍、1.45倍、2.55倍的額定電流進(jìn)行試驗(yàn),在規(guī)定時(shí)間內(nèi)是否跳脫; 也能對(duì)斷路器進(jìn)行瞬時(shí)脫扣特性試驗(yàn),即施加3~10倍的額定電流進(jìn)行試驗(yàn)。
斷路器脫扣特性測(cè)試臺(tái),斷路器瞬時(shí)脫扣特性根據(jù)客戶提供的技術(shù)要求來設(shè)計(jì)制造的,符合 GB10963.1-2005第9.10條、GB14048.1-2006第7.2.1條、JB/T8979-2006第8.13條國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。